大米精加工的冷抛光改进工艺

摘要

本专利公开了一种大米精加工的冷抛光改进工艺，包括稻谷进粮立筒仓→初清筛→永磁筒→振动清理筛→去石机→主砻谷机→副砻谷机→第一道碾米机→第二道碾米机→第三道碾米机→抛光机→色选机→白米分级筛→长度分级机→成品立筒仓→电子流量称→包装，在第一道碾米机和副砻谷机之间设有集精选、谷糙分离和用于降低米温于一体的一级凉筒仓，在抛光机和第三道碾米机之间设有集分筛和用于降低米温于一体的二级凉筒仓，本发明意在提供一种大米精加工的冷抛光改进工艺，以解决现有的大米精加工冷抛光工艺还存在加工工序链较长、效率低和降温效果不明显的问题。