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基于纹理特征聚类的磁瓦表面缺陷检测方法

摘要

本发明提供一种基于纹理特征聚类的磁瓦表面缺陷检测识别方法,具体算法包括:第一步,通过Gabor核函数与磁瓦表面灰度值卷积计算得到Gabor能量谱,选用四个方向的能量谱叠加得到总能量谱;第二步,为优化算法,利用自定义乘积系数谱与总能量谱相乘得到修正的Gabor能量谱;第三步采用模糊C均值聚类算法对修正的Gabor能量谱分割出3类区域;第四步,通过对3类区域采用过质点水平线上的灰度变化特性提取缺陷,判定磁瓦合格与不合格。本发明利用缺陷纹理与正常纹理特征的差别,通过聚类算法分割,有效地克服了磁瓦本身光照不均匀、噪声干扰等问题,可以快速、有效地提取各类磁瓦缺陷,具有很强得适应性。

著录项

  • 公开/公告号CN105719266B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 安徽达特智能科技有限公司;

    申请/专利号CN201410717407.6

  • 发明设计人 孙海涛;李丹;赵卫东;

    申请日2014-12-02

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/40(20170101);G06K9/62(20060101);

  • 代理机构32207 南京知识律师事务所;

  • 代理人蒋海军

  • 地址 243000 安徽省马鞍山市霍里山大道北段698号2栋801室

  • 入库时间 2022-08-23 10:15:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-28

    授权

    授权

  • 2016-10-12

    专利申请权的转移 IPC(主分类):G06T7/00 登记生效日:20160921 变更前: 变更后: 申请日:20141202

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-07-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20141202

    实质审查的生效

  • 2016-06-29

    公开

    公开

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