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基于视觉识别技术的磁瓦表面缺陷检测系统及检测方法

摘要

本发明公开了一种基于视觉识别技术的磁瓦表面缺陷检测系统,用于对磁瓦表面是否存在缺陷进行检测,包括:磁瓦图像采集模块,用于采集磁瓦图像并输出;磁瓦表面缺陷预测模块,连接所述磁瓦图像采集模块,用于于所述磁瓦图像中提取出磁瓦特征图,并对各所述磁瓦特征图中的疑似磁瓦表面缺陷进行定位,并得到一缺陷预测结果;缺陷概率判断模块,连接所述磁瓦表面缺陷预测模块,用于根据各所述磁瓦特征图和所述缺陷预测结果,计算得到所述磁瓦图像中存在所述磁瓦表面缺陷的概率,得到一磁瓦表面缺陷概率判断结果并存储,本发明能够对磁瓦图像是否存在磁瓦表面缺陷进行自动识别判断,实时性好,准确率高,能够有效保证磁瓦产品质量。

著录项

  • 公开/公告号CN110827263B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 创新奇智(南京)科技有限公司;

    申请/专利号CN201911075938.9

  • 发明设计人 张发恩;杨帅;艾国;

    申请日2019-11-06

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06N3/04(20060101);

  • 代理机构44502 广州鼎贤知识产权代理有限公司;

  • 代理人丁雨燕

  • 地址 210046 江苏省南京市经济技术开发区兴智路6号兴智科技园B栋第19层

  • 入库时间 2022-08-23 11:30:47

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