一种大面积获取组织光学参数及微观结构的光反射成像技术

摘要

本发明提供一种大面积获取组织光学参数及微观结构的光反射成像技术，包括在任意空间距离和在整个空间频率域中均适用的浑浊介质反射率计算方法，以及一种通过测量高和低空间频率浑浊介质反射，并以得到的光反射率反演得出介质光学参数的方法。反演方法可以是运用查表法或者公式拟合法。浑浊介质sub‑扩散和漫射光反射率的测量可用于大面积测定混浊介质的光学特性及包括相位函数等的微观结构。