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铜氧化膜厚度测量仪及测量方法

摘要

铜氧化膜厚度测量仪,包括信号控制模块,信号控制模块包括恒定电流输出模块、电压采样模块、处理模块和通信模块,恒定电流输出模块、电压采样模块、通信模块均连接处理模块,恒定电流输出模块连接电解槽的阳极接口、阴极接口,阴极接口、阳极接口均连接电压采样模块,在阳极接口上设置电位传感器。本发明还提供测量方法,通过测量电压值、通电时间,绘制出电压——时间曲线,获取曲线的拐点后可计算出氧化膜厚度。本发明通过信号控制模块实现供应恒定直流电、测量试样电压以及放大、转换信息,无需外设其他设备,整体结构简单;通过测量电位,绘制电压——时间曲线,根据曲线的拐点得到氧化亚铜及氧化铜的反应时间,无需在电解槽中设置参考电极。

著录项

  • 公开/公告号CN105136880B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉康捷科技发展有限公司;

    申请/专利号CN201510557568.8

  • 发明设计人 喻晖;冯永春;曹钟樑;

    申请日2015-09-02

  • 分类号

  • 代理机构北京市金栋律师事务所;

  • 代理人吴小旭

  • 地址 430090 湖北省武汉市汉南区华顶工业园D05号

  • 入库时间 2022-08-23 10:15:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-17

    授权

    授权

  • 2016-01-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/26 申请日:20150902

    实质审查的生效

  • 2015-12-09

    公开

    公开

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