公开/公告号CN105136880B
专利类型发明专利
公开/公告日2018-08-17
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉康捷科技发展有限公司;
申请/专利号CN201510557568.8
申请日2015-09-02
分类号
代理机构北京市金栋律师事务所;
代理人吴小旭
地址 430090 湖北省武汉市汉南区华顶工业园D05号
入库时间 2022-08-23 10:15:41
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-08-17
授权
授权
2016-01-06
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/26 申请日:20150902
实质审查的生效
2015-12-09
公开
公开
机译: 光谱透射率测量仪,透射型厚度计,色值测量仪,光谱透射率测量方法,厚度测量方法和色值测量方法
机译: 辊位移测量方法,采用相同方法的设备的辊位移测量方法,膜厚度测量方法以及采用相同方法的膜厚度测量方法
机译: 薄膜厚度测量装置,膜厚度测量方法,膜厚度测量程序,以及用于记录膜厚度测量程序的记录介质