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张运娟; 张胡军; 何文海; 高睿;
天水华天科技股份有限公司,甘肃天水,741000;
铜框架; 表面氧化; 氧化膜厚度;
机译:研究碱性介质中的铜氧化过程。第3部分。关于碱性介质中表面氧化物铜相的电化学鉴定问题
机译:碱环境中铜氧化过程的研究。 第3部分。关于碱环境中铜表面氧化物相的电化学鉴定问题
机译:Na_2SO_4电解水去除引线框架铜铁合金表面氧化膜
机译:使用LB法测定DLC和氧化物表面吸附膜的膜厚度测量
机译:对控制含铜低碳钢中表面热脆性的高温氧化过程的研究。
机译:光合膜中铜介导的脂质过氧化过程
机译:电化学氧化过程中钛的碳化物,氮化物,硼化物和硅化物表面形成保护性氧化物纳米膜的特征
机译:al / Cu sub 2 O的热电偶混合物的表面研究。铝和氧化铝在铝上的厚度测量及铜化学变化
机译:用于铜引线框架表面的氧化膜去除装置和使用该氧化膜去除方法的氧化膜去除方法
机译:铜铅框架表面氧化膜的去除装置及氧化膜的去除方法。
机译:薄膜厚度测量装置,膜厚度测量方法,膜厚度测量程序,以及用于记录膜厚度测量程序的记录介质
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