嵌入式闪存的测试方法

摘要

本发明公开了一种嵌入式闪存的测试方法，包括以下步骤，分别预先设置待测闪存的测试项目的期望值；同时或分时进行测试项目的实际测试，得到实际测得数据值；将所述实际测得数据值存入到错误捕获内存中；将实际测得数据值与所述闪存中预先设置的所有测试项目的期望值一一进行并行比较，判断每一个测试项目是否合格；当测试项目的实际测得数据值与预先设置的测试项目的期望值相同时，则判断测试项目为合格，否则为不合格；判断闪存是否为合格品，当所有测试项目为合格时，则测试的闪存为合格品，否则为不合格品。本发明提供的嵌入式闪存的测试方法，具有使嵌入式闪存的测试周期短、耗时时间短、测试时间短等优点。