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一种缺陷关联系数的度量方法

摘要

本发明公开了一种缺陷关联系数的度量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:从缺陷管理系统中抽象出来需要计算关联度的缺陷信息建立抽象的缺陷关联模型;步骤二:计算缺陷的数据相似度;步骤三:计算缺陷间的耦合度;步骤四:根据缺陷的数据相似度、缺陷间的耦合度计算缺陷关联系数;步骤五:根据缺陷传播特性更新缺陷关联系数矩阵。本发明计算出了两个直接关联缺陷间的缺陷关联系数,准确度高;设计了一种基于缺陷传递的缺陷关联系数的简单路径调整算法,实现对缺陷关联系数矩阵的动态更新。

著录项

  • 公开/公告号CN105677565B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江理工大学;

    申请/专利号CN201610010014.0

  • 发明设计人 包晓安;董萌;张娜;吴彪;郭炜杰;

    申请日2016-01-06

  • 分类号

  • 代理机构杭州杭诚专利事务所有限公司;

  • 代理人尉伟敏

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙经济开发区2号大街928号浙江理工大学

  • 入库时间 2022-08-23 10:15:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-21

    授权

    授权

  • 2016-07-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F11/36 申请日:20160106

    实质审查的生效

  • 2016-06-15

    公开

    公开

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