IC设计数据的比较与合并

摘要

所提出的方法包括用于管理用于多个数据存储的集成电路(IC)设计信息的方法和系统。每一个数据存储都被分成分区，允许对更大的数据集进行比较。将关键字分配给每一个数据集中的对象，以便确定在多个数据存储之间是否添加、删除或修改了对象，并且还确定了对象差异。用户可以使用基于图形或文本的方法，来比较和合并数据存储之间的差异。所提出的方法对于大型数据库而言是非常高效而准确的。所提出的方法允许用户容易地可视化复杂数据库中的差异，并且容易地合并所期望的改变。