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静电吸附装置、等离子体处理装置及等离子体处理方法

摘要

本发明涉及静电吸附装置、等离子体处理装置及等离子体处理方法。可不引起异常放电或绝缘破坏地稳定吸附保持绝缘体的基板。其载置玻璃基板(G)的载置台(10)是在基底部件(12)之上设置了例如由铝构成的矩形块状基座(14)和包围此基座(14)的由绝缘体如石英构成的矩形框状聚焦环(16),在基座(14)的主面上设置了由借助于各种喷镀法形成的下部电介质层(18)、电极层(20)及上部电介质层(22)的三层结构所构成的静电吸附部(24)。下部电介质层(18)以及上部电介质层(22)由体积固有电阻值在1×1014Ω·cm以上的氧化铝、氧化锆的陶瓷构成。直流电源(34)的输出端子电气连接到电极层(20)。

著录项

  • 公开/公告号CN1311538C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-04-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东京毅力科创株式会社;

    申请/专利号CN200410086830.7

  • 发明设计人 里吉务;

    申请日2004-10-28

  • 分类号H01L21/68(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人龙淳

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2007-04-18

    授权

    授权

  • 2005-07-06

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-05-04

    公开

    公开

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