测量起皱胶膜特征的方法和改变起皱胶膜的方法

摘要

本文描述石英晶体微量天平(QCM)和具有耗散功能的石英晶体微量天平(QCMD)技术，其可用于测量与在薄纱纸和毛巾制造过程期间在杨克烘缸(Yankee dryer)上形成的起皱胶膜类似的起皱胶膜的特征。另外，本文所述的示范性实施例可以使用这些技术来预测用于形成起皱胶膜的起皱助剂的性能。