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在(La,Sr)(Al,Ta)O3上制备ZnO单晶薄膜的方法

摘要

本发明公开了一种在(La,Sr)(Al,Ta)O3上制备ZnO单晶薄膜的方法,其步骤为:对LSAT(111)衬底表面进行低温氧等离子体预处理;然后在超高真空及低温下沉积镁超薄层,再升高衬底温度对镁超薄层进行退火处理,让镁原子在LSAT(111)衬底上迁移、脱附,最后获得极薄镁吸附层,从而实现ZnO薄膜按晶格小失配外延取向生长,制备得到单一O极性、单一畴的原子级光滑的高质量ZnO薄膜。本发明首次提出LSAT(111)衬底表面的镁吸附方法,有效地控制了ZnO的外延取向,克服了现有方法ZnO薄膜按大失配(18.9%)外延取向生长所造成的薄膜应变大、缺陷密度高等问题,所得的光滑ZnO薄膜具有很高的晶体质量与光电性能,完全满足制作高性能光电子器件的要求。

著录项

  • 公开/公告号CN1294633C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-01-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院物理研究所;

    申请/专利号CN200410071047.3

  • 申请日2004-07-28

  • 分类号H01L21/365(20060101);

  • 代理机构11003 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人尹振启

  • 地址 100080 北京市海淀区中关村南三街8号

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-11-03

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/365 授权公告日:20070110 申请日:20040728

    专利权的终止

  • 2007-01-10

    授权

    授权

  • 2005-05-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-03-02

    公开

    公开

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