集成分析装置及相关制造方法和分析技术

摘要

本发明涉及集成分析装置及相关制造方法和分析技术。本发明提供了具有大尺度和纳米尺度尺寸的部件的集成分析装置，以及具有降低的背景信号并减少了置于装置内的荧光团淬灭的装置。还提供了制造这些装置和使用这些装置的相关方法。