首页> 中国专利> 小尺寸相贯结构相对位置精确测量方法

小尺寸相贯结构相对位置精确测量方法

摘要

本发明涉及一种小尺寸相贯结构相对位置精确测量方法。本发明通过制作高同轴度的测量夹具,测量夹具外圆周直径与贯穿要素的内径相配合;将测量夹具沿贯穿要素轴向伸入贯穿要素中固定放置;使用光学投影测量仪对被贯要素的中心进行测量并确定被测零件的中心位置;同时对测量夹具深入到被贯要素的部分取轮廓各点数据进行测量;对测量数据进行分析,利用夹具深入被贯要素中的部分的坐标确定夹具中心,等效确定为贯穿要素的轴心,由此间接测量得相贯结构两要素之间的位置精度,判定相贯结构两要素之间方向和位置是否符合设计要求。本发明方法能够实现相贯结构各要素相对位置精确、方便的测量和分析,提高了测量的精准性、有效性和一致性。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-08

    授权

    授权

  • 2016-05-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 申请日:20150723

    实质审查的生效

  • 2016-04-20

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号