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执行带电粒子显微镜中的样本的断层成像的方法

摘要

一种执行带电粒子显微镜中的样本的断层成像的方法,包括下面的步骤:–提供带电粒子束;–在能够相对于所述束被倾斜的样本夹持器上提供所述样本;–导向所述束通过所述样本并且以便在图像检测器处形成所述样本的图像;–在第一系列的样本倾斜角的每一个处重复此过程以便获得对应的图像集合;–数学地组合来自所述集合的图像以便构造合成图像,所述方法包括下面的步骤:–选择第二系列的样本倾斜角;–在所述第二系列的样本倾斜角的每一个处,使用频谱检测器来生成所述样本的频谱图,从而获得频谱图的集合;–分析所述频谱图以得到与所述样本有关的合成数据;–在构造所述合成图像中采用所述合成数据,所述频谱图例如可以使用从包括EDX、EELS、EFTEM及其组合的组中选择的技术而被获得。

著录项

  • 公开/公告号CN103681189B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-05-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FEI 公司;

    申请/专利号CN201310414456.8

  • 发明设计人 D.福尔德;R.肖恩马克斯;

    申请日2013-09-12

  • 分类号H01J37/26(20060101);H01J37/28(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人方世栋;王忠忠

  • 地址 美国俄勒冈州

  • 入库时间 2022-08-23 10:11:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-11

    授权

    授权

  • 2015-11-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/26 申请日:20130912

    实质审查的生效

  • 2014-03-26

    公开

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