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基于三维形态的颗粒分析方法及颗粒放置支架

摘要

本发明提出一种基于三维形态的颗粒分析方法,包括以下步骤:以多个视角对颗粒进行扫描以得到颗粒在多个视角下的点云数据;对多个视角下的点云数据进行拼接;对拼接后的点云数据进行降噪以得到最终点云数据;根据最终点云数据构建颗粒的三维表面形态的网格模型;对三维表面形态的网格模型进行渲染和展示,以根据展示结果分析和统计颗粒的几何特性和形态特性。根据本发明实施例的方法能够方便地实现颗粒形态三维精细化量测、重建、三维可视化、形态定量分析。本发明还提出了一种颗粒放置支架。

著录项

  • 公开/公告号CN104008573B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201410258283.X

  • 发明设计人 徐文杰;李澄清;

    申请日2014-06-11

  • 分类号G06T17/30(20060101);G01N15/00(20060101);G01N15/02(20060101);F16M11/20(20060101);

  • 代理机构11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张大威

  • 地址 100084 北京市海淀区100084-82信箱

  • 入库时间 2022-08-23 10:10:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-20

    授权

    授权

  • 2014-09-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T17/30 申请日:20140611

    实质审查的生效

  • 2014-08-27

    公开

    公开

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