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一种基于纳米颗粒示踪技术的纳米颗粒粒径分布检测分析方法

摘要

本发明提供一种液体中纳米颗粒粒径分布检测分析方法,包括如下步骤:步骤1),基于纳米颗粒示踪技术确定待测液体中某一纳米颗粒的运动轨迹;步骤2),计算待测液体中纳米颗粒的流动位移矢量,并将流动位移矢量从纳米颗粒运动位移矢量中去除,即得布朗运动的位移矢量;步骤3),先根据所述纳米颗粒的布朗运动的位移计算其平均扩散系数,再根据斯托克斯爱因斯坦方程计算得到纳米颗粒粒径;步骤4),通过对液体中所有纳米颗粒的粒径进行分析,统计得到待测液体中纳米颗粒的粒径分布情况。该方法具有灵敏度高、准确度高等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN113109218A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202110433012.3

  • 发明设计人 张艳微;巩岩;郎松;胡慧杰;

    申请日2021-04-21

  • 分类号G01N15/02(20060101);G06K9/38(20060101);G06K9/40(20060101);G06K9/46(20060101);

  • 代理机构11250 北京三聚阳光知识产权代理有限公司;

  • 代理人李博洋

  • 地址 215163 江苏省苏州市高新区科灵路88号

  • 入库时间 2023-06-19 11:49:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-22

    授权

    发明专利权授予

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