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一种基于指向角残差的星载激光测高仪指向角系统误差标定方法

摘要

本发明提出一种基于指向角残差的星载激光测高仪指向角系统误差标定方法,在地面探测激光光斑的基础上,根据定位的激光光斑位置,建立星载激光测高仪的指向角残差;基于指向角残差,建立指向角系统误差与指向角残差的关系;利用星上系统测量的指向角与地面光斑探测解算得到的激光指向角生成指向角残差,利用指向角残差实现了对测高仪指向角系统误差的在轨检校。本发明能够很好地检校指向角系统误差。

著录项

  • 公开/公告号CN106125069B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN201610458680.0

  • 申请日2016-06-22

  • 分类号G01S7/497(20060101);

  • 代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人赵丽影

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学

  • 入库时间 2022-08-23 10:09:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-20

    授权

    授权

  • 2016-12-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S7/497 申请日:20160622

    实质审查的生效

  • 2016-11-16

    公开

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