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光电瞄准系统下视跟踪测试方法及实施该方法的测试装置

摘要

本发明公开了一种光电瞄准系统下视跟踪测试方法及实施该方法的测试装置。测试装置,包括二维转台,二维转台上装配有平行光管,并在平行光管的上方设有用于固定光电瞄准系统位置的安装部件,安装部件装配在机架上。本发明以二维转台带动平行光管运动的方式实现平行光管与光电瞄准系统的相对运动,从而模拟广电瞄准系统相对于目标源的移动,在此过程中,平行光管所发射出的平行光源始终朝上,以致平行光管上方的光电瞄准系统不会出现视场盲区,尤其在需要测试光电瞄准系统对正下方目标的下视性能时,可将光电瞄准系统置于平行光管的正上方,此时平行光管和光电瞄准系统之间不会受到二维转台的干涉,从而增大了光电瞄准系统下视跟踪性能测试的范围。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-02-13

    授权

    授权

  • 2016-06-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):F41G3/32 申请日:20151205

    实质审查的生效

  • 2016-05-04

    公开

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