基于VMM的二级缓存验证方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于VMM的二级缓存验证方法及装置，该方法包括：分别产生N个外设测试所需的N个第一事务；其中，第一事务包括测试数据包，N为自然数；分别产生与N个第一事务相对应的N组激励信号，并将激励信号传送至二级缓存中；针对任一第一事务：每隔预设时间，从二级缓存中存储第一事务的缓存区读出所存储的第二事务；将第一事务与第二事务的相似度进行对比，获得目标相似度；当目标相似度的值大于等于预设相似度的值时，验证通过；由上可见，采用本发明的方法及装置，可对芯片的二级缓存是否支持外设进行验证。