首页> 中文期刊>中国集成电路 >基于VMM验证方法学的MCU验证环境

基于VMM验证方法学的MCU验证环境

     

摘要

随着SystemVerilog成为IEEE的P1800规范,越来越多的项目开始采用基于SystemVerilog的验证方法学来获得更多的重用扩展性、更全面的功能覆盖率,以及更合理的层次化验证结构。本文主要提出了一种基于SystemVerilog的VMM验证方法学的验证环境。在这个验证环境中,验证了一个8位的MCU,这个MCU主要应用在数据卡项目中,主要特点是时钟周期与指令周期相等,并且相对于标准MUC指令需要时钟周期较少。通常验证MCU都会应用以前的16进制代码读入ROM中,通过仿真观察波形以及输出来确认功能正确,每次只能根据实际应用程序测试对应的一部分MCU功能,缺少一个量化的指标,而且每次改动MCU,需要重新检查结果,效率比较低,而且验证质量无法保证。这里实现了用SystemVerilog来搭建一个基于VMM验证方法学的可移植、重用、扩展、完全自动检查、具有层次化结构的MCU验证平台。这里运用了VMM方法学,设计了一个层次化的验证结构,可以较简单地移植并验证其他类型的MCU,抽象了MCU指令,并且通过约束产生随机指令激励,可以实现遍历所有指令以及地址,另外功能覆盖率模型帮助能够收集并监测覆盖率。

著录项

  • 来源
    《中国集成电路》|2011年第1期|53-59|共7页
  • 作者

    朱思良;

  • 作者单位

    上海华虹集成电路有限责任公司;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号