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磁电耦合动态显微观察与测量系统

摘要

本发明提出了一种磁电耦合动态显微观察与测量系统,包括:磁加载子系统,包括:亥姆赫兹线圈、磁铁滑槽、第一和第二磁电连接活动块、第一和第二强磁铁、曲柄收线轮、连接线和多个滑轮;显微观察子系统为偏光显微镜主体结构;移动载物台子系统包括:单向限定块、位移距离限制块、十字凸槽移动块、载物单向限定块和紧固块;信号控制与测量子系统包括:信号发生器、特斯拉探针、锁相放大器、拍摄设备和上位机,拍摄设备与显微观察子系统相连,用于记录不同载荷下的实验试件的微结构变化图像,上位机与拍摄设备相连,存储拍摄设备采集的不同载荷下的实验试件的微结构变化图像。本发明具有使用方便、结构紧凑、测量精度高、成本节约等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN104535944B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-02-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201410545824.7

  • 发明设计人 方菲;周洋洋;

    申请日2014-10-15

  • 分类号

  • 代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张大威

  • 地址 100084 北京市海淀区100084-82信箱

  • 入库时间 2022-08-23 10:06:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-02-09

    授权

    授权

  • 2015-05-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/12 申请日:20141015

    实质审查的生效

  • 2015-04-22

    公开

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