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临时半导体结构键合方法和相关的键合半导体结构

摘要

本发明涉及临时半导体结构键合方法和相关的键合半导体结构。制造半导体结构的方法包括以下步骤:将原子组分注入承载裸片或晶片中以在该承载裸片或晶片内形成弱化区域,并将该承载裸片或晶片键合到半导体结构。在利用承载裸片或晶片来操作半导体结构的同时,可以该处理半导体结构。该半导体结构可以键合到另一个半导体结构,并且可以沿承载裸片或晶片中的弱化区域分割承载裸片或晶片。利用这样的方法制造半导体结构。

著录项

  • 公开/公告号CN105489512B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-01-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 硅绝缘体技术有限公司;

    申请/专利号CN201510873777.3

  • 发明设计人 玛丽亚姆·萨达卡;约努茨·拉杜;

    申请日2011-07-19

  • 分类号H01L21/60(20060101);H01L21/768(20060101);H01L23/485(20060101);H01L23/48(20060101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人李辉;张旭东

  • 地址 法国伯涅尼

  • 入库时间 2022-08-23 10:06:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-30

    授权

    授权

  • 2016-05-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/60 申请日:20110719

    实质审查的生效

  • 2016-04-13

    公开

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