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一种工艺潜在缺陷的检测参数及缺陷判据确定方法

摘要

本发明涉及一种工艺潜在缺陷的检测参数及缺陷判据确定方法,步骤如下:步骤1:产品制造过程工艺分析;步骤2:工艺潜在缺陷及原因分析;步骤3:工艺潜在缺陷表征参数的确定;步骤4:工艺潜在缺陷影响关系模型的建立;步骤5:工艺检测参数及缺陷判据的确定。本方法基于工艺潜在缺陷影响关系模型,确定产品制造过程中工艺潜在缺陷的检测参数及缺陷判据,避免制造过程参数检测的盲目性。

著录项

  • 公开/公告号CN104750968B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-01-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201310756459.X

  • 发明设计人 张大钢;

    申请日2013-12-31

  • 分类号

  • 代理机构天津盛理知识产权代理有限公司;

  • 代理人王来佳

  • 地址 300308 天津市滨海新区空港经济区保税路357号

  • 入库时间 2022-08-23 10:05:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-20

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F19/00 授权公告日:20180105 终止日期:20181231 申请日:20131231

    专利权的终止

  • 2018-01-05

    授权

    授权

  • 2015-07-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F19/00 申请日:20131231

    实质审查的生效

  • 2015-07-01

    公开

    公开

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