一种基于断言的嵌入式存储控制器验证系统及方法

摘要

本发明公开一种基于断言的嵌入式存储控制器验证系统及方法，涉及集成电路逻辑验证领域，该验证系统主要包括:（1）DUV代码分析提取单元（2）验证断言及激励生成单元（3）综合验证单元；通过对DUV设计代码进行自动分析提取，结合存储控制器验证断言库和激励产生库，高效地产生验证断言代码和激励生成代码，可以同时把验证代码应用于模拟验证和形式验证两种验证手段，并且能够在综合验证单元中实现对DUV设计的自动加载验证，极大地缩短了验证调试的时间，提高了验证效率。与传统的单独通过逻辑模拟验证相比较，在验证效率以及覆盖率等方面都有诸多优势。