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空腔形成方法、热电堆红外探测器及其制作方法

摘要

本发明提供了一种空腔形成方法、热电堆红外探测器及其制作方法,所述空腔形成方法在硅衬底中形成N阱,在N阱包围的硅衬底中形成N型掺杂的网格结构,并进行电化学腐蚀形成多孔硅层,再通过外延工艺使多孔硅层发生重构形成封闭的空腔。本发明无需通过长时间的湿法腐蚀或干法刻蚀工艺来形成空腔,并且空腔的形成是在金属淀积之前,不存在常规湿法腐蚀硅衬底形成空腔的工艺中对金属的腐蚀问题,此外,该空腔的形成方法比较简单,可与常规CMOS工艺兼容,适于规模化生产。

著录项

  • 公开/公告号CN105576070B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州士兰集成电路有限公司;

    申请/专利号CN201510967729.0

  • 申请日2015-12-18

  • 分类号

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人余毅勤

  • 地址 310018 浙江省杭州市杭州经济技术开发区10号大街(东)308号

  • 入库时间 2022-08-23 10:05:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-22

    授权

    授权

  • 2016-06-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L31/09 申请日:20151218

    实质审查的生效

  • 2016-05-11

    公开

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