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基于放电率钳位闭环的神经元相响应特性的测量系统

摘要

本发明提供基于放电率钳位闭环的神经元相响应特性的测量系统,该系统包括有相互连接的神经元放电率检测装置、PID控制装置、脉冲生成装置。有益效果是该测量系统通过闭环控制保持了神经元放电率,有效地利用了闭环电生理的优势,并且可以方便地改变放电率值,进行多组相响应曲线测量,实现了脉冲刺激时间与相位的准确性,对于相响应的实验研究具有重要价值。

著录项

  • 公开/公告号CN105286848B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-11-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201510752241.6

  • 申请日2015-11-06

  • 分类号

  • 代理机构天津才智专利商标代理有限公司;

  • 代理人吕志英

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号天津大学26楼E座

  • 入库时间 2022-08-23 10:04:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-21

    授权

    授权

  • 2016-03-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B5/04 申请日:20151106

    实质审查的生效

  • 2016-02-03

    公开

    公开

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