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一种高精度二维小角度测量方法

摘要

本发明公开了一种高精度二维小角度测量方法,属于光学非接触二维小角度测量技术。采用二维小角度测量装置实现角度测量方法,其特征在于采用分光光路设计将被测物体反射的带有被测二维角度信息的光分成相互正交的两束,分别带有绕Z、X轴的转角信息进入XY、YZ测量平面,角度测量采用光学差动式测量方法;被测物体姿态发生变化即光线的入射角发生变化,检测后转换成与角度变化值成比例的电信号,经单片机进行信号分析处理及显示,得到由于物体姿态/转角变化而引起的二维角度变化量示值。本发明的优点在于采用一个照明光源和分光光路实现二维小角度同时测量,系统精度高、分辨力和测量范围可调、体积小、结构简单,分辨力可达0.05arcsec,测量范围为±600aresec。

著录项

  • 公开/公告号CN1257384C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2006-05-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN200410094051.1

  • 申请日2004-12-28

  • 分类号

  • 代理机构天津市学苑有限责任专利代理事务所;

  • 代理人任延

  • 地址 300072 天津市卫津路92号

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-02-27

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2006-05-24

    授权

    授权

  • 2005-08-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-06-29

    公开

    公开

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