首页> 中文期刊> 《微电子学》 >一种精确的小角度测量方法

一种精确的小角度测量方法

         

摘要

文章介绍了一种精确的小角度测量方法的原理及其应用装置。通过实验对比,验证了该方法的准确性(精度可达2%)。将该方法及装置应用于硅材料纵向杂质分布的扩展电阻测试[1-3],可大大提高浅结结深测量的准确度。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号