一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法及其系统

摘要

本发明提供了一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法及其系统，通过在光学仿真软件中构建出：光源模型、内部含有缺陷的偏光片模型和接收屏模型，且所述光源模型为黑白条纹光源或者利用点光源发出的光经过光栅后形成的条纹光源，所述偏光片模型由多层透明、各向同性的聚合物薄膜组合形成，并建立内部透明缺陷的薄透镜模型，从而实现偏光片内部缺陷检测的仿真成像系统，通过调节所述成像仿真系统中的各项参数，找到缺陷成像效果最佳时的系统各项参数，从而为实际的偏光片内部缺陷检测系统设计提供指导，克服了现有技术在检测系统设计、以及在进行缺陷检测时的盲目性，能有效提高偏光片内部透明缺陷的检测准确率和速度。