首页> 中国专利> 检测介质厚度变化和/或补偿其引起的球形像差的拾取器

检测介质厚度变化和/或补偿其引起的球形像差的拾取器

摘要

提供了一种光学拾取器,包括光源、用于聚焦来自光源的入射光的物镜以及安置在光源和物镜之间的光学路径上的光学路径改变器,其特征在于包括:光束划分与检测装置,用于将反射后光束划分成光轴上的第一光束部分和分别分布在第一光束部分两侧的第二和第三光束部分,并从第一、第二和第三光束部分检测第一、第二和第三检测信号;和厚度变化检测电路,用于通过从第一检测信号中减去第二和第三检测信号之和来检测记录介质的厚度变化。该光学拾取器允许检测记录介质的厚度变化,而无需在该光学拾取器的光接收侧安装散光镜。由记录介质的厚度变化引起的球形像差能够通过使用执行器根据检测的厚度变化信号驱动球形像差补偿单元或校准镜沿着光轴来校正。

著录项

  • 公开/公告号CN1244924C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2006-03-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200410031856.1

  • 发明设计人 郑钟三;安荣万;金泰敬;徐偕贞;

    申请日2001-09-13

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人黄小临

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-31

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11B 7/135 授权公告日:20060308 终止日期:20170913 申请日:20010913

    专利权的终止

  • 2006-03-08

    授权

    授权

  • 2006-03-08

    授权

    授权

  • 2004-12-15

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-12-15

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-09-29

    公开

    公开

  • 2004-09-29

    公开

    公开

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