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双面研磨装置用载体的制造方法及双面研磨装置用载体并用的双面研磨方法

摘要

本发明为一种双面研磨装置用载体的制造方法,在将形成有用于支承半导体晶圆的支承孔的齿轮形的双面研磨装置用载体进行研磨加工,此发明的特征为:使双面研磨装置具有用于支承双面研磨装置用载体的洞,并备有较双面研磨装置用载体的尺寸为大的齿轮形的外载体,将外载体以洞之中心为相对于外载体的中心为偏心的方式而设置,借由将双面研磨装置用载体收纳于洞而支承双面研磨装置用载体,于洞的中心相对于外载体的中心为偏心的状态下进行双面研磨装置用载体的研磨加工。如此一来,能改善研磨双面研磨装置用载体的状况时其厚度分布不均的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN106061679B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-07-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 信越半导体株式会社;

    申请/专利号CN201580011151.X

  • 发明设计人 佐藤一弥;田中佑宜;小林修一;

    申请日2015-02-13

  • 分类号B24B37/28(20060101);B24B37/08(20060101);H01L21/304(20060101);

  • 代理机构11440 北京京万通知识产权代理有限公司;

  • 代理人许天易

  • 地址 日本东京都千代田区大手町二丁目2番1号

  • 入库时间 2022-08-23 09:59:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-21

    授权

    授权

  • 2016-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):B24B 37/28 申请日:20150213

    实质审查的生效

  • 2016-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):B24B 37/28 申请日:20150213

    实质审查的生效

  • 2016-10-26

    公开

    公开

  • 2016-10-26

    公开

    公开

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