首页> 中国专利> 一种材料微区电导和热电性质的测量装置、测量方法及其用途

一种材料微区电导和热电性质的测量装置、测量方法及其用途

摘要

本发明提供了一种材料微区电导和热电性质的测量装置,所述测量装置包括测试系统以及控制和信息处理系统,所述测试系统包括导电探针(1)、冷库(5)、导电基底(3)和控温样品台(4),其中导电探针(1)与冷库(5)相连,导电基底(3)黏附于控温样品台(4)上;所述控制和信息处理系统包括第一继电器(6)和第二继电器(7)、电压前置放大器(8)、程控电流源表(9)、程控电压表(10)、原子力显微镜控制器(11)、主机(12)和原子力显微镜主机(13)。通过本发明所述的测量装置可以实现样品在微区内的电导测量,塞贝克系数测量,电导‑热电势交替测量,以及热电势与样品形貌同步成像。

著录项

  • 公开/公告号CN104614557B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-07-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国家纳米科学中心;

    申请/专利号CN201510053658.3

  • 申请日2015-02-02

  • 分类号G01Q60/24(20100101);G01R27/02(20060101);

  • 代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人巩克栋;杨晞

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村北一条11号

  • 入库时间 2022-08-23 09:58:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-18

    授权

    授权

  • 2015-06-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q 60/24 申请日:20150202

    实质审查的生效

  • 2015-06-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q 60/24 申请日:20150202

    实质审查的生效

  • 2015-05-13

    公开

    公开

  • 2015-05-13

    公开

    公开

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