法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2012-07-25
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 授权公告日:20060222 终止日期:20110531 申请日:20010531
专利权的终止
2006-02-22
授权
授权
2003-08-27
实质审查的生效
实质审查的生效
2002-02-06
公开
公开
机译: 基于事件的半导体测试系统,用于测试半导体组件,具有控制器,该控制器可调节整体系统活动,并向事件存储器提供测试程序以及事件时间控制数据
机译: 用于测试电子组件的半导体测试系统受事件支持,用于检测信号和选通信号,以基于存储在事件存储器中的事件数据生成半导体组件的评估结果
机译: 用于基于事件的测试系统上的内存测试的模块化体系结构