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基于核外电子概率密度分布的复杂曲面零件匹配检测方法

摘要

本发明属于精密加工与测量技术领域,并公开了一种基于核外电子概率密度分布的复杂曲面零件匹配检测方法,包括:对待测零件进行非接触式扫描获得扫描点云,并将其与设计点云组成匹配比较对象;将两片点云转换到同一三维坐标系内,并将各个点看作原子的原子核,将此原子核的邻域点看作核外电子,遍历所有点计算得出其对应的电子概率密度分布值;基于计算得出的电子概率密度分布值确定两个模型的误差,并在当前误差不满足终止条件时对测量点云进行粗匹配和精匹配,直至满足终止条件为止。通过本发明,能够有效解决现有非接触式匹配检测技术中对模型几何结构及初始位置敏感,且易陷入局部最优的技术难题。

著录项

  • 公开/公告号CN106354935B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-07-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201610763863.3

  • 发明设计人 高亮;李太峰;李新宇;肖蜜;

    申请日2016-08-30

  • 分类号

  • 代理机构华中科技大学专利中心;

  • 代理人梁鹏

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 09:58:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-18

    授权

    授权

  • 2017-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20160830

    实质审查的生效

  • 2017-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20160830

    实质审查的生效

  • 2017-01-25

    公开

    公开

  • 2017-01-25

    公开

    公开

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