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表面纹理测量设备、其控制器和用于控制其的方法

摘要

一种能解决用于每个完全显示量程的误差的表面纹理测量设备,一种用于该表面纹理测量设备的控制器,以及一种用于控制该表面纹理测量设备的方法,其中包括选择任一显示量程作为参考量程,并定义用于每个显示量程的校准测量值;替换所述测量值而依次将校准测量值输入到对应于参考量程的量程放大器,以获得参考显示值rDATAi;将校准测量值输入到对应于每个显示量程的量程放大器,然后获得AD转换值ADi和显示值DATAi;计算增益误差率ki=rDATAi/DATAi、显示分辨率DIVi=DATAi/ADi、和已校正显示分辨率cDIVi=DIVi×ki;以及显示已校正显示值cDIVi=DIVi×ki。

著录项

  • 公开/公告号CN103308020B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-07-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社三丰;

    申请/专利号CN201310140513.8

  • 发明设计人 金松敏裕;本田博臣;

    申请日2013-03-08

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人张银英

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 09:58:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-14

    授权

    授权

  • 2015-03-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/20 申请日:20130308

    实质审查的生效

  • 2015-03-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/20 申请日:20130308

    实质审查的生效

  • 2013-09-18

    公开

    公开

  • 2013-09-18

    公开

    公开

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