一种PCB电气性能测试点的智能四线选点方法

摘要

本发明公开了一种PCB电气性能测试点的智能四线选点方法，用于对PCB板上的孔进行检验，该方法通过对PCB板上的孔进行筛选后，选择符合要求的镀通孔为测试孔；本发明的这种选点方法，替代了人们手动选点的过程，对需要测试的孔不会漏选也不会多选，从而对PCB板的测试提供有力的保障。