用于将逻辑集成电路的逻辑功能测试数据映射为物理表述的集成电路测试软件系统

摘要

本发明总的来说，通过将经过模拟模型的数字逻辑芯片所具有的功能测试数据进行转换，利用如前所述的功能确定和显示与网络名相对应的X、Y坐标。这个模拟模型可以识别芯片的一个或多个缺陷网络。依据如前所述类型的数据库对缺陷网络进行处理，得到这些网络的X、Y坐标数据，允许将这些坐标在芯片布局上以物理轨迹的形式被记录下来。在典型的实施例中，通过获取功能测试器的输出，并将故障扫描链列表(124)转换(126)为可疑的网络列表节点(129)来实现这种映射。然后识别可疑的网络列表节点的X、Y坐标并将其存储在数据库中，给出了故障分析并向增长产量的工程师提供了起始点，起始点用于进行故障分析和迅速判断行中检测数据是否可以解释已知故障。然后，这些节点从电路设计交互映射到设计中复合光掩模层的每一层芯片布局中。详细的故障数据被收集并作为综合程序的一部分存储到晶片层而不是作为一项所需的基本程序存储到封装层。因此可以用完全自动的方式得到大量高质量的数据，而不是相反的以极度费力的方式得到相对较少的相对低质量的数据。