公开/公告号CN105264328B
专利类型发明专利
公开/公告日2017-05-31
原文格式PDF
申请/专利权人 迈通电子有限公司;
申请/专利号CN201480031702.4
发明设计人 保罗·迈尔;斯特凡·特格尔许特尔;乌多·维特;
申请日2014-06-03
分类号F41J5/02(20060101);
代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;
代理人杨生平;钟锦舜
地址 德国梅勒
入库时间 2022-08-23 09:56:31
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-05-31
授权
授权
2016-02-17
实质审查的生效 IPC(主分类):F41J 5/02 申请日:20140603
实质审查的生效
2016-01-20
公开
公开
机译: 光学确定无接触穿透位置的测量框架和相应的测量方法
机译: 带光学滤镜的测量框架,用于非接触式光学确定穿透位置
机译: 用于通过非接触光学确定位置的测量框架和相应的测量方法