双通道计数系统及高剂量条件下剂量当量的测量方法

摘要

本发明涉及电离辐射测试技术领域，提供一种双通道计数系统、高剂量条件下剂量当量的测量方法，以解决高剂量条件下的剂量当量测量问题。该测量方法主要包括：初始化双通道计数系统；分别在中能辐射场和高能辐射场进行测量；对各个条件下的测量值进行线性拟合得到插值方程。本发明提出的技术方案在一定的辐射场平均有效能量范围内，实现了半导体探测器计数线性和能量响应的同时修正。