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一种薄膜应力量测方法及量测装置

摘要

本发明涉及一种薄膜应力量测方法及量测装置,属于测量技术领域。该薄膜应力量测方法及量测装置中,激光发射器投射至少两束激光投射到待量测的薄膜上,使得检测器在接受到经薄膜反射的反射光后,能根据多束反射光反射角之间的差值Δα修正薄膜应力,从而能够有效降低量测误差;同时,该量测装置还包括旋转镜组,能将超出量程的反射光投射到激光接收单元,以此扩大量测范围,进一步提高量测结果的精确度,且本发明的薄膜应力量测装置结构简单,成本低廉,量测方法应用方式简便,使用范围也较为广泛。

著录项

  • 公开/公告号CN104568247B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海和辉光电有限公司;

    申请/专利号CN201310470964.8

  • 发明设计人 刘冲;彭思君;杨飞;

    申请日2013-10-10

  • 分类号G01L1/24(20060101);

  • 代理机构31229 上海唯源专利代理有限公司;

  • 代理人曾耀先

  • 地址 201508 上海市金山区金山工业区大道100号1幢二楼208室

  • 入库时间 2022-08-23 09:56:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-21

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01L1/24 变更前: 变更后: 申请日:20131010

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2017-05-17

    授权

    授权

  • 2017-05-17

    授权

    授权

  • 2015-05-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01L1/24 申请日:20131010

    实质审查的生效

  • 2015-05-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01L 1/24 申请日:20131010

    实质审查的生效

  • 2015-04-29

    公开

    公开

  • 2015-04-29

    公开

    公开

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