首页> 中国专利> 具有纳米线存取晶体管的DRAM

具有纳米线存取晶体管的DRAM

摘要

一种半导体纳米线与环绕式半导体部分(30D)一体地形成,该环绕式半导体部分接触位于深沟槽上部部分并且接触深沟槽电容器的内部电极(16)的导电顶盖结构(18)的侧壁。半导体纳米线(30N)悬于埋入绝缘体层(20)上方。栅电介质层(32L)形成在包括半导体纳米线和环绕式半导体部分的半导体材料结构(30P)的表面上。环绕式栅电极部分(30D)绕半导体纳米线的中心部分形成并且形成栅分隔件(52)。去除图案化的半导体材料结构的物理暴露部分,执行选择性外延和金属化,以将半导体纳米线的源侧端部连接到导电顶盖结构。

著录项

  • 公开/公告号CN104335349B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国际商业机器公司;

    申请/专利号CN201380027013.1

  • 发明设计人 J·常;J·W·斯莱特;

    申请日2013-05-15

  • 分类号

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人马景辉

  • 地址 美国纽约

  • 入库时间 2022-08-23 09:55:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-10

    授权

    授权

  • 2015-03-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/108 申请日:20130515

    实质审查的生效

  • 2015-02-04

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号