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公开/公告号CN104335349B
专利类型发明专利
公开/公告日2017-05-10
原文格式PDF
申请/专利权人 国际商业机器公司;
申请/专利号CN201380027013.1
发明设计人 J·常;J·W·斯莱特;
申请日2013-05-15
分类号
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;
代理人马景辉
地址 美国纽约
入库时间 2022-08-23 09:55:41
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-05-10
授权
2015-03-11
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/108 申请日:20130515
实质审查的生效
2015-02-04
公开
机译: 包括具有纳米线存取晶体管的DRAM的半导体结构及其形成方法
机译: 具有纳米线存取晶体管的DRAM
机译:一种新颖的单晶体管动态随机存取存储器(1T DRAM),具有部分插入的宽带双壁垒,适用于高温应用
机译:测量SOI DRAM / SRAM存取晶体管中的瞬态效应
机译:部分耗尽的硅纳米线晶体管中的浮体效应和潜在的电容少的单晶体管DRAM应用
机译:具有垂直存取晶体管的新型沟槽DRAM单元和4 Gb / 16 Gb的埋入式表带(VERI BEST)
机译:DRAM / eDRAM和3D-DRAM的省电方法,利用工艺变化,温度变化,设备降级和内存访问工作负载变化,以及使用具有服务质量的3D-DRAM的创新的异构存储管理方法。
机译:一种新颖的单晶体管动态随机存取存储器(1T DRAM)具有部分插入的宽带隙双壁垒适用于高温应用
机译:基于硅纳米线晶体管的4T静态随机存取存储单元的电阻负载优化
机译:利用铁电晶体管的静态随机存取存储单元的I-V特性。