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一种基于配对样本T检验的事件相关电位分析方法

摘要

一种基于配对样本T检验的事件相关电位分析方法:设计含两种刺激的脑电诱发实验,并利用脑电采集设备记录多个导联的头皮脑电信号,进行初步的预处理;提取两种刺激下的ERP信号;对两种刺激下的ERP信号进行配对样本T检验,确定具有显著差异的时段;计算两种刺激下的ERP信号在显著差异时段内的差异面积,并绘制脑地形图,确定差异脑区。本发明确定了两种刺激下的ERP显著差异时段,并绘制了基于ERP波形差异面积的脑地形图,进而得到在显著差异时段内的差异脑区分布。本发明对于信噪比较差、且单个成分并不明显的ERP研究具有重要意义,并且为ERP信号和自发脑电的剥离提供了新的思路。

著录项

  • 公开/公告号CN104545900B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201410836452.3

  • 发明设计人 殷涛;王欣;刘志朋;

    申请日2014-12-29

  • 分类号

  • 代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人杜文茹

  • 地址 300192 天津市南开区白堤路236号

  • 入库时间 2022-08-23 09:52:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-02-22

    授权

    授权

  • 2015-05-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 5/0476 申请日:20141229

    实质审查的生效

  • 2015-04-29

    公开

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