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用于半导体测试系统的电源电流测量单元

摘要

一种用于半导体测试系统中的电源电流测量单元,包括:D/A转换器,基于接受的数字信号,产生供给被测器件的电源电压;运算放大器,用于形成负反馈回路并把电源电压供给被测器件,由此通过电阻器,把电源电流提供给电源引线;电压放大器,用于放大代表电源电流量的电压;积分电路,用于在预定积分时间内对电压放大器的输出信号进行积分;A/D转换器,用于在积分时间之后,转换积分电路的输出信号。该单元能对被测器件的电源电流进行高速、准确地测试。

著录项

  • 公开/公告号CN1234015C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-12-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社鼎新;

    申请/专利号CN01110514.3

  • 发明设计人 菅森茂;

    申请日2001-04-05

  • 分类号G01R31/28;G01R19/00;

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人蹇炜

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-11

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 授权公告日:20051228 申请日:20010405

    专利权的终止

  • 2005-12-28

    授权

    授权

  • 2003-05-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2001-11-07

    公开

    公开

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