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半导体存储器的内部电源电压生成电路及生成方法

摘要

本发明涉及半导体存储器的内部电源电压生成电路和生成方法,其目的在于提供一种能缩短从以比保证存取的规定的最小循环短的地址周期的数据读出工作转移至以规定的最小循环的数据读出工作时的存取延迟的半导体存储器的内部电源电压生成电路以及内部电源电压生成方法。一边对外部电源电压进行升压,生成升压电压并将其作为内部电源电压经由输出线供给到半导体存储器,一边向一端连接于输出线的电容器的另一端施加基准低电位,并且向该输出线施加外部电源电压,由此对电容器进行充电,在内部电源电压比阈值电压低的情况下,通过向该电容器的另一端施加外部电源电压,从而使输出线上的内部电源电压上升。

著录项

  • 公开/公告号CN102750981B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-11-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 拉碧斯半导体株式会社;

    申请/专利号CN201210117226.0

  • 发明设计人 广田彰宏;

    申请日2012-04-20

  • 分类号G11C16/06(20060101);G11C16/02(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人毛立群;王忠忠

  • 地址 日本神奈川县横滨市

  • 入库时间 2022-08-23 09:48:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-11-16

    授权

    授权

  • 2014-05-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 16/06 申请日:20120420

    实质审查的生效

  • 2013-12-18

    著录事项变更 IPC(主分类):G11C 16/06 变更前: 变更后: 申请日:20120420

    著录事项变更

  • 2012-10-24

    公开

    公开

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