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星载旋转扫描干涉式成像微波辐射计

摘要

本发明涉及一种微波对地观测技术的星载旋转扫描干涉式成像微波辐射计。它包括天线A,天线A扫描机构,伸杆A,卫星的三轴稳定部分,卫星的自旋部分,天线B,伸杆B,天线C,伸杆C;伸杆A安装在卫星的三轴稳定部分的一侧,卫星的自旋部分安装在卫星的三轴稳定部分的另一侧,伸杆B和伸杆C沿径向安装在卫星的自旋部分上,天线A扫描机构一端与伸杆A连接,另一端与天线A连接,天线B和天线C分别固定在伸杆B和伸杆C的顶端;所述的卫星的自旋部分中放置有公共本振、相关器AB、相关器AC和数字处理部分。本发明在相同天线体积和重量的限制条件下,可比现有技术方案在低轨道对地观测卫星上实现更高的被动微波遥感的空间分辨力。

著录项

  • 公开/公告号CN1208875C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN01144135.6

  • 发明设计人 吴季;黄永辉;董晓龙;

    申请日2001-12-12

  • 分类号H01Q21/00;G01R29/08;G01V3/12;

  • 代理机构31002 上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人高存秀

  • 地址 100080 北京市中关村南二条1号

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-02-01

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01Q 21/00 授权公告日:20050629 终止日期:20151212 申请日:20011212

    专利权的终止

  • 2005-06-29

    授权

    授权

  • 2003-09-10

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-06-25

    公开

    公开

  • 2002-03-27

    实质审查的生效

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