法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-09-07
授权
授权
2014-07-30
实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 5/00 申请日:20140408
实质审查的生效
2014-07-02
公开
公开
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 斯托克斯干扰激发荧光成像的方法和系统
机译: 校正光谱中光谱干扰的方法,包括记录基质溶液的光谱,该基质溶液包含一种浓度的所有光谱干扰成分,这些成分也包含在样品中