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一种基于分水岭分割的显微图像颗粒粒度测量方法

摘要

本发明公开了一种基于分水岭分割的显微图像颗粒粒度测量方法,本方法首先利用中值滤波器、全局阈值方式对获取的原始显微图像进行预处理,然后计算预处理后显微图像的梯度图像,构建梯度图像的数据矩阵,通过数据矩阵计算梯度图像的内部标记符集合和外部标记符集合,获得分割后显微图像,再对颗粒的数目、大小、形状进行测量,从而实现了基于分水岭分割的显微图像颗粒粒度测量。本方法有效地解决了颗粒粒度测量系统获取的颗粒轮廓不连续且不单一,保证了颗粒粒度参数测量的精度。该方法使用简便,无需增加额外辅助设备。

著录项

  • 公开/公告号CN104075965B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京机械设备研究所;

    申请/专利号CN201410311363.7

  • 发明设计人 李雨洋;王赢元;

    申请日2014-07-02

  • 分类号

  • 代理机构中国航天科工集团公司专利中心;

  • 代理人岳洁菱

  • 地址 100854 北京市海淀区北京142信箱208分箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:45:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-24

    授权

    授权

  • 2014-10-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20140702

    实质审查的生效

  • 2014-10-01

    公开

    公开

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