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基于时间相关单光子计数技术的半透明材料辐射物性测量方法

摘要

基于时间相关单光子计数技术的半透明材料辐射物性测量方法,涉及材料物性测量技术领域。它是为了解决传统辐射物性参数的测量物件测量过程中存在信噪比低、动态范围小的问题。本发明可以同时测量多个辐射物性,稳定性同比提高了20%,可用于航空航天、生物医疗、燃烧诊断、光学探测及无损探伤等工程领域。时间相关单光子计数技术是一种具有高时间分辨率可用于极微弱光信号探测的技术,单光子计数器具有受探测器不稳定因素的影响小、信噪比高、动态范围宽、设备便宜以及可以输出数字信号便于数据处理等优点。本发明适用于材料物性测量技术领域。

著录项

  • 公开/公告号CN104181128B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-08-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201410418533.1

  • 发明设计人 张彪;齐宏;贾腾;阮立明;谈和平;

    申请日2014-08-22

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人张宏威

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 09:45:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-17

    授权

    授权

  • 2014-12-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/47 申请日:20140822

    实质审查的生效

  • 2014-12-03

    公开

    公开

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