一种数码电子雷管电子控制模块测试电路

摘要

本实用新型公开了一种数码电子雷管电子控制模块测试电路，包括DCDC转换电路、MCU主控模块、放电检测电路和结果显示电路，DCDC转换电路连接到MCU主控电路，MCU主控电路连接有放电测试电路和结果显示电路。本实用新型的电路结构，能够实现数码电子雷管电子控制模块的快速测试，测试方便快捷。

说明书

技术领域

本实用新型属于电子雷管测试电路技术领域，涉及一种数码电子雷管电子控制模块测试电路。

背景技术

数码电子雷管控制模块贴片生产后，需要测试其通讯、充放电等性能，测试合格后方能进入下一步生产步骤，为满足生产需求，需开发一款控制模块测试电路，测试合格后，方可进入下一生产流程。目前并未有任何文献记载有测试电路。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是：提供一种数码电子雷管电子控制模块测试电路，以解决现有技术中存在的技术问题。

本实用新型采取的技术方案为：一种数码电子雷管电子控制模块测试电路，包括DCDC转换电路、MCU主控模块、放电检测电路和结果显示电路，DCDC转换电路连接到MCU主控电路，MCU主控电路连接有放电测试电路和结果显示电路。

优选的，上述DCDC转换电路采用TPS562201芯片。

优选的，上述MCU主控模块采用STM32F103C8T6单片机，STM32F103C8T6单片机设置有232通讯接口。

优选的，上述放电检测电路包括齐纳管和三极管Q1，三极管Q1的基极并联连接有齐纳管和电阻R1，齐纳管和电阻R1分别连接到IN+端和IN-端，三极管Q1的集电极连接到电阻R2和主控模块，电阻R2连接到3.3V电源, 三极管Q1的发射极接地。

优选的，上述结果显示电路包括发光二极管和电阻R3，发光二极管和电阻R3串联后一端连接到主控模块，另一端接地。

本实用新型的有益效果：与现有技术相比，本实用新型的电路结构，能够实现数码电子雷管电子控制模块的快速测试，测试方便快捷。

附图说明

图1为本实用新型的控制原理框图；

图2为DCDC转换电路结构示意图；

图3为MCU主控模块电路结构示意图；

图4为放电检测电路结构示意图；

图5为结果显示电路结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图及具体的实施例对本实用新型进行进一步介绍。

实施例1：如图1-图5所示，一种数码电子雷管电子控制模块测试电路，包括DCDC转换电路、MCU主控模块、放电检测电路和结果显示电路，DCDC转换电路连接到MCU主控电路，MCU主控电路连接有放电测试电路和结果显示电路。

优选的，上述DCDC转换电路采用TPS562201芯片，提供充足的电流，DCDC转换电路，将输入的DC12V电压转换为3.3V，给MCU主控电路供电。

优选的，上述MCU主控模块采用STM32F103C8T6单片机，STM32F103C8T6单片机设置有232通讯接口和SPI通讯接口，利用232通讯接口，接收开始测试信号；测试接口通过二线制协议，测试电子控制模块性能；测试完成后将测试结果通过SPI接口发送给上位机。

优选的，上述放电检测电路包括齐纳管和三极管Q1，三极管Q1的基极并联连接有齐纳管和电阻R1，齐纳管和电阻R1分别连接到IN+端和IN-端，三极管Q1的集电极连接到电阻R2和主控模块，电阻R2连接到3.3V电源, 三极管Q1的发射极接地；IN+、IN-分别接到控制模块输入端TEST+和TEST-，检测控制模块放电压是否达到要求。

若放电电压达到设置电压，齐纳管导通，三极管Q1基极输入正电压，使三极管导通，SLK由高电平变为低电平；若放电电压未达到设置电压，齐纳管不导通，三极管不导通，SLK为高电平。

优选的，上述结果显示电路包括发光二极管和电阻R3，发光二极管和电阻R3串联后一端SLK连接到主控模块的SLK，另一端接地，若 MCU主控单元检测结果为合格，则输出高电平点亮LED；若MCU主控电源测试结果为不合格，则输出低电平，LED不会被点亮。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内，因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。